TC210TC210涂鍍層測厚儀
涂鍍層測厚儀
DT-156 便攜式涂鍍層測厚儀
DT-156 便攜式涂鍍層測厚儀價格北京美特邇環(huán)保儀器批發(fā)零售DT-156涂鍍層測厚儀探頭可以工作在電磁感應和渦流兩種原理下。在自動模式（AUTO）下，兩種原理可視測量的基體自動轉換，或可通過菜單進行自動模式和非自動模式轉換。
特性
1、可測量涂鍍層： ①磁性物質表面的非磁性涂鍍層厚度 ②非磁性金屬表面的絕緣涂鍍層厚度
2、豐富的操作菜單
3、連續(xù)和單次測量方式
4、直接工作模式和組工作模式
5、可統(tǒng)計并顯示：平均值、大小值、標準方差、統(tǒng)計數
6、可進行一點或兩點校準
7、可保存400個測量數據
8、USB連接并將數據傳輸至電腦
9、實時刪除測量數據和組數據
10、紅寶石探頭
11、低電和錯誤提示
12、可設置的自動關機功能
尺寸：113.5*54*27mm 重量：110g
配件 使用說明書×1 保修卡×1 AAA 7號電池×2 鐵磁基底×1 鋁塊基底×1 校準薄片×3 USB連接線×1 軟件CD×1 便攜工具盒×1
DT-156 便攜式涂鍍層測厚儀價格北京美特邇環(huán)保儀器批發(fā)零售
MiniTest1100涂鍍層測厚儀
德國EPK（Elektrophysik）公司
涂鍍層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100特點：MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機，各自具有不同的數據處理功能；所有型號均可配所有探頭；可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機；可使用一片或二片標準箔校準。
| 技術特征 |
| 型號 | 1100 | 2100 | 3100 | 4100 |
| MINITEST 存儲的數據量 | ||||
| 應用行數（根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數） | 1 | 1 | 10 | 99 |
| 每個應用行下的組（BATCH）數（對組內數據自動統(tǒng)計計算，并可設寬容度極限值） | | 1 | 10 | 99 |
| 可用各自的日期和時間標識特性的組數 | | 1 | 500 | 500 |
| 數據總量 | 1 | 10000 | 10000 | 10000 |
| MINITEST統(tǒng)計計算功能 | ||||
| 讀數的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar | | √ | √ | √ |
| 讀數的八種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | | | √ | √ |
| 組統(tǒng)計值六種x,s,n,max,min,kvar | | | √ | √ |
| 組統(tǒng)計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | | | √ | √ |
| 存儲顯示每一個應用行下的所有組內數據 | | | | √ |
| 分組打印以上顯示和存儲的數據和統(tǒng)計值 | | | √ | √ |
| 顯示并打印測量值、打印的日期和時間 | | √ | √ | √ |
| 其他功能 | ||||
| 設置極限值 | | | √ | √ |
| 連續(xù)測量模式快速測量，通過模擬柱識別最大最小值 | | | √ | √ |
| 連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數 | | | √ | √ |
| 連續(xù)測量模式中顯示最小值 | | | √ | √ |
| 可選探頭參數（探頭圖示） 所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇最適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。 F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層 N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層 FN兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能 |
| 探頭 | 量程 | 低端 分辨率 | 誤差 | 最小曲率半徑 （凸/凹） | 最小測量 區(qū)域直徑 | 最小基 體厚度 | 探頭尺寸 | |
| 磁 感 應 法 | F05 | 0-500μm | 0.1μm | ±（1%±0.7μm） | 1/5mm | 3mm | 0.2mm | φ15x62mm |
| F1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±（1%±1μm） | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm | |
| F1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±（1%±1μm） | 平面/6mm | 5mm | 0.5mm | φ8x8x170mm | |
| F2/90 | 0-2000μm | 0.2μm | ±（1%±1μm） | 平面/6mm | 5mm | 0.5mm | φ8x8x170mm | |
| F3 | 0-3000μm | 0.2μm | ±（1%±1μm） | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm | |
| F10 | 0-10mm | 5μm | ±（1%±10μm） | 5/16mm | 20mm | 1mm | φ25x46mm | |
| F20 | 0-20mm | 10μm | ±（1%±10μm） | 10/30mm | 40mm | 2mm | φ40x66mm | |
| F50 | 0-50mm | 10μm | ±（3%±50μm） | 50/200mm | 300mm | 2mm | φ45x70mm | |
| 兩 用 | FN1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±（1%±1μm） | 1.5/10mm | 5mm | F0.5mm/N50μm | φ15x62mm |
| FN1.6P | 0-1600μm | 0.1μm | ±（1%±1μm） | 平面 | 30mm | F0.5mm/N50μm | φ21x89mm | |
| FN2 | 0-2000μm | 0.2μm | ±（1%±1μm） | 1.5/10mm | 5mm | F0.5mm/N50μm | φ15x62mm | |
| 電 渦 流 法 | N02 | 0-200μm | 0.1μm | ±（1%±0.5μm） | 1/10mm | 2mm | 50μm | φ16x70mm |
| N.08Cr | 0-80μm | 0.1μm | ±（1%±1μm） | 2.5mm | 2mm | 100μm | φ15x62mm | |
| N1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±（1%±1μm） | 1.5/10mm | 2mm | 50μm | φ15x62mm | |
| N1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±（1%±1μm） | 平面/10mm | 5mm | 50μm | φ13x13x170mm | |
| N2 | 0-2000μm | 0.2μm | ±（1%±1μm） | 1.5/10mm | 5mm | 50μm | φ15x62mm | |
| N2/90 | 0-2000μm | 0.2μm | ±（1%±1μm） | 平面/10mm | 5mm | 50μm | φ13x13x170mm | |
| N10 | 0-10mm | 10μm | ±（1%±25μm） | 25/100mm | 50mm | 50μm | φ60x50mm | |
| N20 | 0-20mm | 10μm | ±（1%±50μm） | 25/100mm | 70mm | 50μm | φ65x75mm | |
| N100 | 0-100mm | 100μm | ±（1%±0.3mm） | 100mm/平面 | 200mm | 50μm | φ126x155mm | |
| CN02 | 10-200μm | 0.2μm | ±（1%±1μm） | 平面 | 7mm | 無限制 | φ17x80mm | |
| F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內測量。 N.08Cr適合銅上鉻，F(xiàn)N2也適合銅上鉻。 CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。 |
GALVANOTEST電解破壞式庫侖鍍層測厚儀
GALVANOTEST庫侖鍍層測厚儀的介紹：
1. 可測實際應用的所有鍍層
2. 利用庫侖電量分析原理，測量鍍層、多層鍍層
3. 符合國際標準：DIN EN ISO 2177
GALVANOTEST 可以測量
70種以上鍍層/基體組合
預置9種金屬的測量參數：Cr鉻、Ni鎳、Cu銅、黃銅、Zn鋅、Ag銀、Sn 錫、Pb鉛、Cd鎘。
從單鍍層，例如鋅在鋼上，直至三鍍層，例如鉻層在鎳層再在銅層或塑料上。
X-strata960涂鍍層測厚儀
X-strata960X射線熒光鍍層厚度測量儀
基于25年涂鍍層測量經驗，在CMI900系列測厚儀的堅實基礎上，引進的設計：
•；新100瓦X射線管 - 市場上所能提供的的X射線管。提高30%測量精度，同時減少50%測量時間
•；更小的X射線光斑尺寸 - 新增15mil直徑準直器，可測量電子器件上更小的部位。提供改進的CCD攝像頭及縮放裝置，同時提供更高精度的Y軸控制。
•；距離獨立測量（DIM） - 更靈活地特殊形狀樣品，可在DIM范圍內12.5-90mm（0.5-3.5inch）對樣品表面進行測量，Z軸可控制范圍為230mm（9inch）。可通過手動調整也可以通過自動鐳射聚焦來實現(xiàn)對樣品的精確對準。
•；自動鐳射聚焦 - 自動尋找振決的聚焦距離，改善DIM的聚焦過程并提高系統(tǒng)測量再現(xiàn)性。也可選擇標準的鐳射聚焦模式。
•；的大型樣品室 - 更大的開槽式樣品室（580x510x230mm : 23x20x9inch）,開槽式設計可容納超大尺寸的樣品。可從各個方向簡便的裝載和觀察樣品。
•；3種樣品臺選項 - XY程控控制(200x200mm或8x8inch移動范圍)/XY手動控制（250x250mm或10x10英寸）/固定樣品臺；標準配置Z軸程控控制(230mm或9inch移動范圍)。
•；內置PC用戶界面
X-Strata 960測厚儀
主要應用領域：
用于高精度要求的別測厚儀
電路板/半導體/連接器端子/五金貴金屬電鍍
（如1.0uinch Au，Ag…）
主要特點:
X-Strata 960 X熒光射線測厚儀，可快速測定各種材料構成
的多層鍍層厚度和元素組成。長壽命100瓦微焦點X射線管
（其它測厚儀為50瓦）。提高30%分析精度和減少50%的分
析時間三種樣品臺可供選擇:程控XYZ軸:300 x 200 x 230mm；
手動XY軸：250 x 250mm＋230mm程控Z軸；固定位置樣品臺，
最大高度230 mm更小準直器,測量更小區(qū)域:最小直徑15um
圓形準直器，20x/80xCCD圖像放大倍數自由距離測量DIM：
更靈活地測量不規(guī)則樣品（凹凸）,在12.5~102mm自由聚
焦范圍內可聚焦樣品表面任意測量點。并有自動雷射
聚焦功能 一體機工作站式設計，簡化設備安裝，減少占用
空間。
儀器介紹:
960系列 X射線熒光測厚儀樣品臺采用箱體式設計‘能
測量多種幾何形體、各種尺寸的樣品’，測定方法滿足
ISO3497、 ASTM B568和DIN 50987
技術參數:
元素范圍: Ti22 – U92 同時分析層數和元素定量:5層
(4層+基體)；最多同時15種元素定量
X射線激發(fā):100瓦(50kV-2.0mA)微焦點鎢靶X射線管
（可選鉬靶X射線管）
X射線檢測: Xe封氣正比計數器，可最多裝備3種二次
濾光片
準直器: 最多4種，多種規(guī)格備選樣品形態(tài): 電鍍、
涂鍍、薄膜、合金、液體、等等
數字脈沖處理器:4096通道數字多道分析器,包含自動
波譜校正和Pulse Pile Rejection功能
CCD: 1/3” CCD 640 x 512 Pixel array, 500 line/inch
電源: 85-130V或者215-265V、頻率47-63Hz
工作環(huán)境: 10－40℃、相對濕度小于98%，無冷凝水
樣品臺移動量: 程控XYZ軸：300 x 200 x 230mm； 手
動XY軸：250 x 250mm＋230mm程控Z軸
儀器尺寸:H744 x W686 x D813
重量: 160公斤
TT210TT210鍍層測厚儀
- 采用了磁性和渦流兩種測厚方法，可無損地測量
- 磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金等）上非磁性覆層厚度（如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等）
- 非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上非導電覆層厚度（如:橡膠、油漆、陽極氧化膜等）
- 具有兩種測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）
- 具有兩種工作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（Appl）
- 設有五個統(tǒng)計量：平均值、最大值（MAX）、最小值（MIN）、測試次數（NO．）、標準偏差
- 可采用兩種方法對儀器進行校準,并可用基本校準法對測頭的系統(tǒng)誤差進行修正
- 具有存貯功能：可存貯500 個測量值
- 具有刪除功能：對測量中出現(xiàn)的單個可疑數據進行刪除，也可刪除存貯區(qū)內的所有數據
- 可設置限界：對限界外的測量值能自動報警；并可用直方圖對一批測量值進行分析
- 具有打印功能：可打印測量值、統(tǒng)計值、限界、直方圖
- 具有與PC 機通訊的功能：可將測量值、統(tǒng)計值傳輸至PC 機，以便對數據進行進一步處理
- 具有電源欠壓指示功能
- 操作過程有蜂鳴聲提示
- 具有錯誤提示功能，通過屏顯或蜂鳴聲進行錯誤提示
- 設有兩種關機方式：手動關機方式和自動關機方式
- 測頭類型：F | N
- 測量原理：磁感應 | 電渦流
- 測量范圍：0-1250um | 0-1250um 0-40um（銅上鍍鉻）
- 低限分辨力：0.1um
- 探頭連接方式：一體化
- 示值誤差：F | N
- 一點校準（um）：±[3%H+1]
- 兩點校準（um）：±[（1%~3%）H+1]
- 一點校準（um）：±[3%H+1.5]
- 兩點校準（um）：±[（1%~3%）H+1.5]
- 測量條件：F | N
- 最小曲率半徑（mm）：凸1.5 | 凹9
- 基體最小面積的直徑（mm）：ф7
- 最小臨界厚度（mm）：0.5
- 最小曲率半徑（mm）：凸3 | 凹10
- 基體最小面積的直徑（mm）：ф5
- 最小臨界厚度（mm）：0.3
- 溫濕度：0~40℃ | 20%RH～90%RH
- 統(tǒng)計功能：平均值、最大值（MAX）、最小值（MIN）、測試次數（NO．）、標準偏差
- 工作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（Appl）
- 測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）
- 上下限設置：有
- 存儲能力：500個測量值
- 打印/連接計算機：可選配打印機/不能連接電腦
- 關機方式：手動和自動
- 電源：二節(jié)AAA型（7號）1.5V電池
- 外形尺寸：110×50×23mm
- 重量：100g
- 主機
- 鐵基體和鋁基體
- 標準片一套|五片
- 二節(jié)AA型（5號）1.5V電池
- 儀器保護套
- 使用說明書
涂鍍層測厚儀 型號:M303497
| 涂鍍層測厚儀 型號:M303497 | 貨號: |
| 詳細介紹： BSK-05-TT220數字式涂層測厚儀采用磁性測厚法，它能快速、無損傷、精頦地進行鐵磁性金屬基體上的覆層厚度的測量。可廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領域。由于該儀器體積小，測頭與儀器一體化，特別適用于工程現(xiàn)場測量。 主要功能: 可對測頭進行基本校準；可進行零點校準及二點校準； 設有五個統(tǒng)計量：平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、測試次數(NO)、標準偏差(S.DEV)。 可存貯和統(tǒng)計計算15個測量值。 具有兩種測量方式：連續(xù)測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE)。 自動關機功能。 刪除功能：對測量中出現(xiàn)的單次可疑數據進行刪除，也可刪除存貯區(qū)內的所有數據，以便進行新的測量。 操作過程有蜂鳴聲提示。 有欠壓指示功能。 有錯誤提示功能。 技術參數： 測量范圍（µm） 待測基體最小曲率半徑 （mm） 基體最小面積的直徑（mm） 基體最小面積的直徑（mm） 低限分辨力（µm） 示值誤差（µm） 零點校準 二點校準 0~1250 凸1.5 凹9 Æ7 1 ±（3%H+1） ±[（1%~ 3%）H+1] 基本配置 TT220主機 1臺 標準樣片 5片 標準基體 1塊 充電器 1個 選購件 TA230打印機 1臺 TA510線纜 1根 |
鍍層測厚儀
CMI900 無損電鍍 膜厚測試儀，鍍層測厚儀 專業(yè)測量金、銀 鈀 銠 鎳 銅 錫 等貴金屬多鍍層膜厚測量，快速 無損，業(yè)內廣受好評，客戶應
用廣泛在 五金 連接器 PCB LED支架等行業(yè)以形成行業(yè)測量的標準。歡迎廣大五金連接器客戶聯(lián)系 測量量樣品 洽談往來 本公司經營多年工程師經驗豐富，商業(yè)合作個方式靈活。
金屬鍍層厚度測量， 例如Zn；Cr； Cu； Ag； Au；Sn等 合金（兩樣金屬元素）鍍層厚度測量， 例如： SnPb； ZnNi； 及NiP（無電浸鎳）在Fe上等 合金（三檬金屬元素）鍍層厚度測量， 例如： AuCuCd在Ni上等 雙鍍層厚度測量， 例如：Au／Ni在Cu 上； Cr／Ni在Cu上；Au／Ag在Ni上；Sn／Cu在黃銅上等 雙鍍層厚度測量（其中一層是合金層）， 例如： SnPb／Ni或Au／PdNi在青銅上等 三鍍層， 例如： Cr／Ni／Cu在塑膠或在鐵上
PCB LED 連接器等行業(yè) gold flash/ Nip / Cu 或 Au / Pdni / Cu ~~ Ag / Ni / Cu / Ni / Cu 等常見應用
儀器介紹CMI 900 系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應用于材料的涂/鍍層 厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域
，為產品質量控制提供、快速的分析.基于WindowsXP中文視窗系統(tǒng)的中文版 SmartLink FP 應用軟件包，實現(xiàn)了對CMI900主機的自動化控制， PCB 五金 LED 連接器 表面處理等行業(yè)技術參數：CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測量儀,在技術上一直以來都領先于全世界的測厚行業(yè)A CMI 900 能夠測量包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區(qū)別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定最多5層、15 種元素。B ：精確度領先于世界，精確到0。025um （相對與標準片）C ：數據統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求 ；如在分析報告中插入數據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。D ：統(tǒng)計功能提供數據平均值、誤差分析、最大值、最小值、數據變動范圍、相對偏差、UCL（控制上限）、LCL（控制下限）、CpK圖、直方圖、X
-bar/R圖等多種數據分析模式。CMI900系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；E ：可測量任一測量點，最小可達0.025 x 0.051毫米牛津儀器CMI900電鍍膜厚測量儀
XDL,XDLM菲希爾金屬鍍層測厚儀
FISCHER 菲希爾金屬鍍層測厚儀只需數秒鐘,便能非破壞性地得到準確的測量結果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任.全自動XYZ樣品臺,鐳射自動對焦系統(tǒng),十字線自動調整.超大/開放式的樣品臺,可測量較大的產品.是線路板,五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的首選.可測量各類金屬層、合金層厚度. 可測元素范圍：鈦（Ti） – 鈾（U） ，可測量厚度范圍：原子序22-25，0.1-0.8μm 26-40，0.05-35μm 43-52，0.1-100μm 72-82，0.05-5μm X-射線管：油冷,超微細對焦高壓：0-50KV（程控） 電腦系統(tǒng)：IBM相容,17”顯示器 綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析； 鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層；鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度（如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等）,簡單的核對方式,無需購買標準藥液；定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量. 金屬鍍層測厚儀對比功能:可將樣品的光譜和標準件的光譜進行對比,可確定樣品與標準件的差別,從而控制來料的純度. 統(tǒng)計功能:能夠將測量結果進行系統(tǒng)分析統(tǒng)計,方便有效的控制品質.
最新產品
- 菌落總數熒光分析儀 2025/1/9 20:54:43
- OH Functionalized Single-Walled Carbon Nanotubes 2025/1/9 20:34:49
- ossila單壁碳納米管 2025/1/9 20:30:12
- OH Functionalized Multi-Walled Carbon Nanotubes 2025/1/9 20:26:19
- ossila多壁碳納米管 2025/1/9 20:22:46
- ossila黑鱗晶體 2025/1/9 20:17:52
- Black Phosphorus Powder 2025/1/9 20:14:06
- Ni-MWCNTs (Nickel Coated Multi-walled Carbon Nanotubes) 2025/1/9 20:10:49
- 天禽AI中醫(yī)脈診儀 - 現(xiàn)代科技與傳統(tǒng)中醫(yī)的完美結合 2025/1/9 18:44:20
- AI智能膝關節(jié)康復儀-科技助力膝關節(jié)健康恢復 2025/1/9 18:40:44
- RoHS檢測分析ROHS1.0 2025/1/9 18:39:14
- 日本（原SONY）Magnescale計數器 2025/1/9 18:02:50
- 日本（原SONY）Magnescale計數器 2025/1/9 17:58:06
- 日本（原SONY）Magnescale計數器 2025/1/9 17:57:28
- 日本（原SONY）Magnescale計數器 2025/1/9 17:51:16
- 日本（原SONY）Magnescale計數器 2025/1/9 17:46:37
- 小鼠脂素1(LPIN1)ELISA試劑盒 2025/1/9 17:45:14
- 小鼠脂肪酸合酶(FASN)ELISA試劑盒 2025/1/9 17:43:42
- 小鼠脂肪酸轉運蛋白5(FATP5)ELISA試劑盒 2025/1/9 17:41:53
- 小鼠膜鐵轉運蛋白(FPN)ELISA試劑盒 2025/1/9 17:38:59
- HAZET工具推車178N-7/204 2025/1/9 17:37:38
- 小鼠膜聯(lián)蛋白A1(ANXA1)ELISA試劑盒 2025/1/9 17:36:31
- 美國Tedea稱重傳感器1022-3kg 2025/1/9 17:34:56
- 小鼠膜聯(lián)蛋白A2(ANXA2)ELISA試劑盒 2025/1/9 17:34:52
- GWK平墊圈3230037 2025/1/9 17:33:18
- Graphitized Multi-Walled Carbon Nanotubes (G-MWCNT) 2025/1/9 17:31:26
- GGB襯套MB9090DX 2025/1/9 17:29:05
- Germanium Disulfide (GeS2) Powder and Crystals 2025/1/9 17:27:13
- 日本（原SONY）Magnescale計數器 2025/1/9 17:26:58
- Barium Titanate 2025/1/9 17:23:16