鍍層測厚儀專場,鍍層測厚儀商家多、資料全面第15組

MP10渦流法涂鍍層測厚儀

價格便宜的ISOSCOPE® MP10儀器適合于使用在不需要全部測量數據存儲，評估和輸出，但又需要在各種幾何外形和鍍層厚度范圍的測試工件上測量的情況下。配有不同種類的探頭以適應各種應用情況。探頭自動識別。應用程式特定的校準參數儲存在測量探頭中，因此儀器一旦連接了任何探頭都能立即進行測量。 ISOSCOPE® MP10配備有一個獨特的和便于讀取的60 x 30 mm (2.4" x 1.2")液晶顯示器。大量顯示的信息使得操作異常簡便，包括單個測量讀數，測量次數，以及顯示操作模式和設置的圖標和符號， 2行文本各16個字母或可自由選擇的符號以用于顯示數據和操作員提示。 ISOSCOPE® MP10 采用根據DIN EN ISO 2360, ASTM B244標準的電渦流方法，適用于測量：l 非導電涂層在非鐵金屬基材上，例如：油漆、臘克和合成涂層在鋁、銅、黃銅、鋅和不銹鋼上 l 鋁的陽極氧化層（非鐵基材）

韓國Micro Pioneer XRF-2000 系列熒光金屬鍍層測厚儀

Micro Pioneer XRF-2000 系列熒光金屬鍍層測厚儀能提供金屬鍍層厚度的測量,同時可對電鍍液進行分析,不單性能,而且價錢超值.只需數秒鐘,便能非破壞性地得到的測量結果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任.

可測元素范圍：

鈦(Ti) – 鈾(U)

可測量厚度范圍：

原子序22-25，0.1-0.8μm

26-40，0.05-35μm

43-52，0.1-100μm

72-82，0.05-5μm

X-射線管：油冷,超微細對焦

高壓：0-50KV(程控)

準直器：

固定種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm

自動種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm

電腦系統：IBM相容,17”顯示器

綜合性能:鍍層分析定性分析定量分析鍍液分析

鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.

鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,無需購買標準藥液.

定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.

光譜對比功能:可將樣品的光譜和標準件的光譜進行對比,可確定樣品與標準件的差別,從而控制來料的純度.

統計功能:能夠將測量結果進行系統分析統計,方便的控制品質.

多年來，我們一直于為PCB 廠商，電鍍行業，科研機構，半導體生產等電子行業提供高性能的儀器和的售后服務。讓客戶滿意，為客戶創造最大的價值是我們始終追求的目標，因為我們堅信，客戶的需要就是我們前進的動力。愿我們成為真誠的合作伙伴、共同描繪雙方的發展藍圖！欲了解產品詳情，請與我們聯系或訪問http://eastco.18show.com.cn

Thick 800A鍍層測厚儀

儀器介紹

Thick800A是天瑞集多年的經驗，專門研發用于鍍層行業的一款儀器，可全自動軟件操作，可多點測試，由軟件控制儀器的測試點，以及移動平臺。是一款功能強大的儀器，配上專門為其開發的軟件，在鍍層行業中可謂大展身手。

性能特點

滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求高精度移動平臺可精確定位測試點，重復定位精度小于0.005mm采用高度定位激光，可自動定位測試高度定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點高分辨率探頭使分析結果更加良好的射線屏蔽作用測試口高度敏感性傳感器保護

技術指標

型號：Thick 800A元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）任意多個可選擇的分析和識別模型。相互獨立的基體效應校正模型。多變量非線性回收程序度適應范圍為15℃至30℃。電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源。外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm 樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm重量：90kg

標準配置

開放式樣品腔。精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。 Si-Pin探測器。信號檢測電子電路。高低壓電源。X光管。高度傳感器保護傳感器計算機及噴墨打印機

應用領域

黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。主要用于貴金屬加工和首飾加工行業；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業。

該公司產品分類： ROHS2.0測試儀等離子體發射光譜儀ICP 手持式光譜儀光電直讀光譜儀波長色散X熒光光譜儀能量色散X熒光光譜儀

涂層鍍層測厚儀

一、德國Elwktro physik涂層鍍層測厚儀1、 MIKROTEST自動型覆層測厚儀適用于鋼、鐵上點鍍層、漆、搪瓷、塑料、橡膠層自動測量不會發生誤操作不用校準，設定，檢閱簡便不需要電池或其他電源抗機械沖擊，耐酸及溶劑腐蝕平衡裝置消除地心引力影響，可在任意方向和管內測量型號測量范圍（um）讀數精度最小測量區直徑（mm）最小半徑（mm）基體最小厚度（mm）凸凹 MIKROTEST 6G 0-100 1um或5%度數 20 5 25 0.5 MIKROTEST 6F 0-1000 3um或5%讀數 30 8 25 0.5 2、 Minitest 電子型涂鍍層測厚儀小巧、實用，用于無損、快速、精確地測量涂層、鍍層厚度 F型用于鋼鐵上的所有非磁性涂層鍍層 N型用于有色金屬上的所有絕緣涂層讀數和統計數據可以打印（選配）尤其適用于防腐工業及建筑型材料，制造工業的防腐涂鍍層測量Minitest 600,600B電子型涂層測厚儀技術規格：測量范圍：F型 0-3000um N型 0-2000um FN型 0-3000um（F）,0-2000um（N）允許誤差：±2um或±2-4%最小曲率半徑：5mm（凸），25mm（凹）最小測量面積：φ20mm最小基本厚度：0.5mm（F型），50mm（N型）顯示：4位數字校準方式：標準校準，一點校準，二點校準接口：RS-232（不適用于B型）二、德國BYK多用途干膜檢驗儀（PIG）在各種底材上（鐵，非磁性金屬，塑料，木材）測量涂層厚度測量范圍：0-2000um/2um 用十字劃格刀進行附著力的測試符合ASTM D3359，DIN53 151 通過顯微鏡可觀察針孔、陷坑、裂痕、氣泡、鱗片層間附著力以及底材預處理的質量控制加硬刀頭可進行布氏壓痕硬度試驗三、德國BYK濕膜測厚儀具有多種規格可供選擇：測量范圍外徑尺寸1、25-2000um 90mm2、5-150um 58mm3、1-80mils 90mm4、0-6mis 58mm

DT-156涂鍍層測厚儀

產品系列DT-156涂鍍層測厚儀探頭可以工作在電磁感應和渦流兩種原理下。在自動模式（AUTO）下，兩種原理可視測量的基體自動轉換，或可通過菜單進行自動模式和非自動模式轉換。特性 1、可測量涂鍍層：①磁性物質表面的非磁性涂鍍層厚度②非磁性金屬表面的絕緣涂鍍層厚度2、豐富的操作菜單3、連續和單次測量方式4、直接工作模式和組工作模式5、可統計并顯示：平均值、最大值、最小值、標準方差、統計數6、可進行一點或兩點校準7、可保存400個測量數據8、USB連接并將數據傳輸至電腦9、實時刪除測量數據和組數據10、紅寶石探頭11、低電和錯誤提示12、可設置的自動關機功能技術指標

傳感器探頭	鐵磁性	非鐵磁性
工作原理	磁感應	渦流
測量范圍	0~1250μm	0~1250μm
精確度	±3%+1μm	±3%+1.5μm
分辨率	0.1μm	0.1μm
最小曲率半徑	1.5mm	3mm
最小測量面積（直徑）	7mm	5mm
可測量基體最小厚度	0.5mm	0.3mm

尺寸：113.5*54*27mm重量：110g

該公司產品分類：數據記錄儀數字萬用表電力測試儀環境測試儀汽車類儀表工業紅外熱像儀涂層測厚儀紅外線測溫儀數字鉗形表

QNix4500鍍層測厚儀

4500鍍層測厚儀

品牌：德國尼克斯

型號：QNix4500

QNix4500涂鍍層測厚儀，我公司大量現貨供應，提供送貨上門服務，可開具增值稅專用發票；產品保證為原廠原裝，假一罰十萬現金；歡迎來電咨詢我們，謝謝。

一、4500鍍層測厚儀簡介

QNix4200和QNix4500這兩種型號一體化設計，只需調零，無需校準，使用極其簡單。其中QNix4200為磁性測厚儀，可以用來測量鋼、鐵等磁性基體上的非磁性涂層、鍍層；QNix4500為磁性和渦流兩用測厚儀，不僅可以用來測量鋼鐵等磁性基體上的非磁性涂鍍層，還可以用來測量鋁、銅、不銹鋼等非磁性金屬表面的非導電涂層，如油漆層、氧化膜、磷化膜等覆層。這兩個型號操作簡單，攜帶方便，精度高，為廣大用戶所喜愛。

二、測量

將儀器探頭垂直接觸被測物的表面，儀器將自動開機并測得數據。注意：測量時務必要使探頭垂直接觸被測物表面、并壓實，每測量一次后將儀器拿起，離開被測物10cm以上，再進行下一點測量。

三、調零

儀器在測量前，為減少測量誤差，應在基體上取零位作基準。建議用未噴涂的同一種工件表面調零，因為材料之間磁性和導電性不同，會造成一定誤差。若沒有未噴涂的工件可以用附送的調零板調零。用儀器測量基體，如顯示0，表明已是零位，不需要再調零。如不顯示0，則需要調零。將儀器探頭壓在調零板或未噴涂的工件表面上，不要抬起，按一下儀器上的紅鍵松開，聽到響聲液晶顯示一組數后，拿開儀器，再次聽到響聲后，液晶顯示0，調零完畢。注意：由于工件表面粗糙度的原因，調零后，再測時不一定是絕對的零位，這是正常現象。

四、Fe/NFe探頭轉換

QNix4500為兩用探頭，當測量不同的基體時，需要對磁性模式（Fe）與非磁性模式（NFe）進行轉換。在開機狀態下，按紅鍵進入菜單選項，繼續按紅鍵選擇Fe或者Nfe；選項短暫停留后，就已選擇相應的測量模式，也可以選擇Fe/Nfe選項，短暫停留后就進入自動識別基體模式（推薦使用）！

菜單中Averaging為平均值選項，在Averaging選項短暫停留后出現ON和OFF兩個選項，在ON選項下短暫停留后進入平均值測量模式，測量時所顯示讀數為最后三次讀數的平均值（包括本次測量），在OFF選項下短暫停留后退出平均值測量模式。

五、顯示

Fe：測量鐵磁性基體模式

NFe：測量非磁性基體模式

Err：操作失誤

INFI：探頭模式與被測基體不符（見第八項，第二點）

BAT：電量不足，需換電池

六、4500鍍層測厚儀維護和維修

QNix4200/4500測厚儀采用最先進的電子技術,能滿足各種不同的測量要求。高精度的設備,堅固的結構和便于使用等特點使得該儀器具有廣泛的應用。只要正確使用和維護,它的壽命會很長。儀器需要保持清潔, 不要摔落, 避免與潮氣,具有化學腐蝕性的物質或氣體接觸。使用完畢,儀器應被放回具有保護性和便于挪動的盒子中。溫度的劇烈變化將影響測量結果,所以不要直接把儀器暴露在強烈的陽光下或能引起溫度聚變的能量中。儀器對大多數溶劑具有抵抗性,但不能保證極少數化學物質的腐蝕,這時處理的方法僅僅是用一塊潮濕,柔軟的布擦洗儀器。只有探針保持清潔,才能獲得準確的數據,所以要定期檢查探針,清理探針上殘留的污物諸如漆等。儀器長期不被使用時, 為避免因漏電而損壞,要取出電池。出現故障時,請不要自行修理,我們的維修部門隨時竭誠為您服務。

七、技術參數

磁性基體：Fe探頭（4200/4500）

非磁性基體：NFe探頭（4500）

測量范圍：Fe:0-3000μm/NFe:0-3000μm

精度：

0-50μm:≤±1μm；50-1000μm:≤±1.5%讀數；1000-3000μm:≤±3%讀數

最小接觸面：10×10mm

最小曲率半徑：凸面：3mm 凹面：25mm

最小機體厚度：Fe:0.2mm/NFe:0.05μm

溫度補償范圍：-10℃-60℃

測量范圍：0℃-50℃

顯示：LCD液晶

探頭：紅寶石固定式

電源：2×1.5V干電池

尺寸：100×60×27mm

重量：105g

八、4500鍍層測厚儀注意事項和常見問題

1.測量應為點接觸，嚴禁將探頭置于被測物表面滑動。

2.出現INFI時，有可能是由于測量基體選擇錯誤造成的，請按照第四項選擇測量基體FE、NFE或自動識別FE/NFE，如未能解決，請執行第三項調零過程即可。

3.因國家地區所用厚度單位不同，在中國銷售的Qnix4500/4200型使用的是μm，因此屏蔽了英制單位mil，有時因操作不當激活mil單位，此時用戶只需復位即可，復位過程為先把電池取下，然后按住紅鍵裝上電池，復位完成后松開紅鍵即可。

4500鍍層測厚儀的任何有關信息，都可以咨詢我們；還可以獲得更多的圖片，技術參數，規格型號，用途說明，使用操作說明書，使用注意事項；具體操作方法等；歡迎致電我們，我們將提供優質的產品和完善的服務。

該公司產品分類：霧度儀美能達光澤度儀維修 BYK光澤度儀維修光澤度儀維修日本孔雀日本得樂量具量儀 BYK色差儀維修綜合測試卡色彩還原測試卡精密色差儀其它測試卡畸變測試卡灰階測試卡膚色卡分辨率測試卡動態范圍測試卡白平衡測試卡 SFR/MTF測試卡圖像分析軟件

CMI900CMI900鍍層測厚儀及X射線熒光測厚儀

X射線熒光測厚儀CMI900

CMI900鍍層測厚儀及X射線熒光測厚儀CMI900介紹

CMI900X射線熒光鍍層測厚儀，有著非破壞，非接觸，多層合金測量，高生產力，高再現性等優點，在質量管理到不良品分析有著廣泛的應用。用于電子元器件，半導體，PCB，汽車零部件，功能性電鍍，裝飾件，連接器等多個行業。

CMI900鍍層測厚儀及X射線熒光測厚儀CMI900主要特點

樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量) 可檢測元素范圍：Ti22 – U92 可同時測定5層/15種元素精度高、穩定性好強大的數據統計、處理功能測量范圍寬 NIST認證的標準片全球服務及支持

CMI900鍍層測厚儀及X射線熒光測厚儀CMI900技術參數

主要規格規格描述 X射線激發系統垂直上照式X射線光學系統空冷式微聚焦型X射線管，Be窗標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標準 75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選裝備有安全防射線光閘二次X射線濾光片：3個位置程控交換，多種材質、多種厚度的二次濾光片任選準直器程控交換系統最多可同時裝配6種規格的準直器多種規格尺寸準直器任選：－圓形，如4、6、8、12、20 mil等－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等測量斑點尺寸在12.7mm聚焦距離時，最小測量斑點尺寸為：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準直器) 在12.7mm聚焦距離時，最大測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準直器) 樣品室 CMI900 CMI950 －樣品室結構開槽式樣品室開閉式樣品室－最大樣品臺尺寸 610mm x 610mm 300mm x 300mm －XY軸程控移動范圍標準：152.4 x 177.8mm 還有5種規格任選 300mm x 300mm －Z軸程控移動高度 43.18mm XYZ程控時，152.4mm XY軸手動時，269.2mm －XYZ三軸控制方式多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制－樣品觀察系統高分辨彩色CCD觀察系統，標準放大倍數為30倍。50倍和100倍觀察系統任選。激光自動對焦功能可變焦距控制功能和固定焦距控制功能計算機系統配置 IBM計算機惠普或愛普生彩色噴墨打印機分析應用軟件操作系統：Windows2000中文平臺分析軟件包：SmartLink FP軟件包－測厚范圍可測定厚度范圍：取決于您的具體應用。－基本分析功能采用基本參數法校正。牛津儀器將根據您的應用提供必要的校正用標準樣品。樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量) 可檢測元素范圍：Ti22 – U92 可同時測定5層/15種元素/共存元素校正貴金屬檢測，如Au karat評價材料和合金元素分析，材料鑒別和分類檢測液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量多達4個樣品的光譜同時顯示和比較元素光譜定性分析－調整和校正功能系統自動調整和校正功能，自動消除系統漂移－測量自動化功能鼠標激活測量模式：“PointShoot” 多點自動測量模式：隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復測量模式測量位置預覽功能激光對焦和自動對焦功能－樣品臺程控功能設定測量點連續多點測量測量位置預覽(圖表顯示) －統計計算功能平均值、標準偏差、相對標準偏差、最大值、最小值、數據變動范圍、數據編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖數據分組、X-bar/R圖表、直方圖數據庫存儲功能任選軟件：統計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書－系統安全監測功能 Z軸保護傳感器樣品室門開閉傳感器操作系統多級密碼操作系統：操作員、分析員、工程師

CMI900CMI900涂鍍層測厚儀

CMI900/950系列X射線熒光測厚儀 Advanced Materials Analysis Instrument

CMI900/950系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域，為產品質量控制提供、快速的分析。基于Windows2000中文視窗系統的中文版SmartLink FP應用軟件包，實現了對CMI900/950主機的自動化控制，分析中不需要任何手動調整或手動參數設定。可同時測定最多5層、15種元素。數據統計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求；如在分析報告中插入數據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。統計功能提供數據平均值、誤差分析、最大值、最小值、數據變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數據分析模式。

CMI900/950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品；并且測量點最小可達0.025 x 0.051毫米。

COMPACT ECOX射線鍍層測厚儀

COMPACT ECO測厚儀能提供一般鍍層厚度和元素分析功能。不單性能、而且價錢超值。分析鍍層厚度和元素成色同時進行，只需幾秒鐘，便能非破壞性地得到的測量結果甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。