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BRUKER(原來VEECO) 光學輪廓儀系統BRUKER(原來VEECO) 光學輪廓儀系統

ContourGT

光學輪廓儀系統

ContourGT™集合領先的64-bit，多核操作和分析軟件，專利的白光干涉（WLI）硬件以及史無前例的簡易操作性于一身，是目前最先進的三維光學輪廓儀。這款第十代的光學輪廓儀在大視場上提供快速、埃級到毫米級的垂直測量范圍，并有靈活的樣品設置和行業領先的重現性。ContourGT是現今生產、研究和質量控制領域中最具綜合性及直觀性的三維輪廓測量系統。

無與倫比的測量性能，行業最大視場上的最高垂直分辨率

放大倍率0.5×到200×，實現各種不同的表面形狀及材質的

在任何放大倍率下都有亞埃級到毫米級的垂直測量范圍，實現空前的測量靈活性

可選的高分辨率照相機提升橫向分辨率，改善測量的重復性和再現性

優秀的測量硬件增強了在工業環境下的測量可靠性和重復性

專利的高亮度雙光源照明LED提供卓越的測量質量和放大倍率靈活性

優化的硬件設計提高了儀器防震能力和測量重復性及再現性。

精選模式中的擁有專利的自校準技術確保工具間的關聯性和測量準確度及重復性

內置Vision64™的64位多核處理器促進了三維輪廓的測量和分析

新的架構使應用程序數據處理能力獲得了數量級增長

運用多核優化和其它技術的并行數據處理方式，使得關鍵計量分析的生產效率提高10倍

無可匹敵的拼接功能可將數以萬計的數據集拼接成一個連續的圖像

用戶界面直觀性強，自動化程度最高，分析能力最強

簡潔的用戶界面簡化了操作和數據采集，提高系統和操作者的工作效率

獨特的可視化工作流程工具提供各種過濾器及分析菜單的直觀使用途徑

可按用戶特殊需求定制報告的精煉分析數據

適用范圍廣，滿足各種特殊需求

ContourGT具有行業領先的測量范圍及適應性，能完成從粗糙界面到光滑界面，硬到軟，粘性的、可撓曲或其它難以測量表面的三維形貌精確測量。利用其獨一無二的直觀用戶界面和廣泛的自動功能，ContourGT測量儀能通過自定義來滿足幾乎所有的測量應用。

該公司產品分類：儀器儀表

JD2A型臥式光學計

儀器總放大倍數：　　　　　1650× 　投影物鏡放大倍數：　　　　18.75× 　分劃板分劃值：　　　　　　0.001mm 　零件調節范圍：　　　　　 ±0.01mm 　測量范圍：　　　　外尺寸：　　　　 0～500mm 　　　　內尺寸：　　　13.5～300mm 　　　　使用大測勾：　26.5～200mm 　　　　使用小測勾： 13.5～26.5mm 　工作臺橫向移動范圍：　不小于25mm 　工作臺測微鼓分度值：　　　 0.01mm

主要附件：　 1. 內測裝置：　　大測溝　　　　　　　　一付　　小測溝　　　　　　　　一付　　量塊架(擋塊)　　　　　一付　　環規　　　　　　　　　一付　 2. φ8平測帽：　　　　　　二件　 3. R20球面測帽：　　　　二件　 4. 中刃形測帽：　　　　　二件　　 (φ2平測帽，小刃形測帽，φ14平測帽選購件)

各種型號光學窗口

我們可為您加工訂做紅外窗口，石英窗口，氟化鈣（CaF2）窗口，硒化鋅（ZnSe）窗口，硅片等各種光學窗口

材料：光學玻璃、紫外熔石英（JGS1）、紅外熔石英（JGS3）以及氟化鈣（CaF2）、氟化鎂（MgF2）、氟化鋇（BaF2）、硒化鋅（ZnSe）、鍺（Ge）、硅（Si）等晶體材料

外圓： 4mm — 200mm

平行度偏差： <30秒

表面精度： >λ/10

表面質量： 40/20

口徑： 90%

鍍膜：按客戶需求可進行鍍膜

該公司產品分類：紅外鏡片，紅外透鏡系列非球面鏡系列濾光片系列平面鏡，光學窗口系列反射鏡系列光學棱鏡系列球面透鏡系列柱面透鏡系列

8156A光學衰減器8156A光學衰減器

描述：8156A光學衰減器適用于快速的通信系統測量。可把它部署在研發和生產過程，適合應用單模和50m多模。用戶可選擇不同的回損性能、內置監測路徑及整體精度，使8156A輕松滿足您的測量需求。

特性

60dB衰減，分辨率為0.001dB，無需測距

1200nm到1650nm的波長范圍

60dB回損

<±0.05dB典型線性

<±0.005dB典型重復性

<0.02dBpp典型從屬極化損耗

+23dBm最大輸入功率

v 瑞普高電子除了上述8156A 以外還能為客戶提供以下衰減器：

HA9

v 在提供有質量的二手測試儀器同時，瑞普高電子還可以為貴公司提供測試儀器的維修，計量校準，租賃和回收服務等一系列的服務。更多咨詢請進：http:www.ruipugao.com

該公司產品分類：光模塊光示波器 LCR測試儀光譜分析儀頻譜分析儀網絡分析儀

81625A回收安捷倫81625A/81628B大功率光學探頭

產品描述

Agilent/HP81625B 光功率探頭

儀器型號：81625B
儀器品牌：Agilent/HP
The Agilent 81625B optical heads are specially designed for low PDL , low spectral ripple ａnd high return loss ａnd are used for optical component tests. The optical heads have to be operated with the single (Agilent 81618A) or dual (Agilent 81619A) interface modules. The heads come with a magnetic D-shape adapter ａnd provide a safe stand. They are used in lightwave mainframe models 8163A/B, 8164A/B ａnd 8166A/B.
Features:
- Large Area InGaAs Sensor
- Optical Range of 850 to 1650 nm
- Power Range of +27 dBm to -70 dBm
- - 深圳市卓興儀器有限公司
  - 聯系人:陳曉東
  - 聯系電話 :13725836612
  - 微信:13725836612
  - QQ: 2020982994
  - 座機：
  - 聯系人：陳卓
  - 聯系電話：13929557502
  - 公司地址:東莞市塘廈鎮環西路111
  - 深圳市卓興儀器有限公司是一家長期高價回收儀器儀表，長期供應二手，全新儀器設備的企業有限公司，公司一直以誠信，公平，公正與現金的結算的方式運作。提供上門提貨或物流公司代收款的操作模式高價收購國內外儀器儀表設備讓您與您公司的閑置，廢棄，待處理的設備快速的資金回籠
  - 公司主營產品；手機綜合測試儀、藍牙測試儀、網絡分析儀、頻譜分析儀、信號源信號發生器、示波器、功率計、頻率計、LCR電橋、電源、數據采集儀、噪聲系數分析儀、多用表校準儀、萬用表、天饋線測試儀安立、溫度記錄儀、邏輯分析儀、色彩分析儀、光波測量系統、阻抗測試治具及附件、衰減器等。
  - 主營品牌；安捷倫、美國泰克、美國福祿克、艾法斯、日本菊水、北京普源、臺灣固緯、德國惠美、美國吉時利、摩托羅拉、美國力科、美國韋夫特克、、等國際知名品牌、德國羅德施瓦茨、英國馬可尼、英國施倫伯杰、日本安立(安利)
  - 回收品牌：
  - 安捷倫Agilent/HP、泰克Tektronix、安立Anritsu、羅德施瓦茨R&S、愛德萬Advantest、艾法斯Aeroflex、馬可尼IFR/Marconi、吉時利Keithley、日立Hitachi、松下Panasonic、
  - 福祿克Fluke、致茂Chroma、力科Lecroy、萊特波特LitePoint、是德Keysight 、橫河Yokogawa、柯尼卡美能達KONICA MINOLTA、思博倫Spirent 等世界著名品牌。
  - 回收類型:
  - 通用儀器
  - 示波器、邏輯分析儀、動態信號分析儀、交流/直流電源分析儀、函數信號發生器、波形監視器、電子負載、波形脈沖發生器、電源、萬用表。
  - 射頻與微波儀器
  - 頻譜分析儀、網絡分析儀、阻抗分析儀、信號發生器、噪聲系數分析儀、電纜/天線分析儀、調制度分析儀、功率計/功率探頭、頻率計、LCR表、測量接收機。
  - 綜合測試儀
  - 手機綜合測試儀、TDMA測試儀、無線電綜合測試儀、PDC/PHS測試儀、天饋線測試儀、3G測試儀、DECT測試儀、藍牙綜合測試儀。
  - 音頻/視頻測試儀
  - 音頻/視頻信號發生器、有線電視分析儀、彩色/視頻分析儀、音頻分析儀、碼型發生器/誤碼率。
  - 光通信測試儀
  - 光譜分析儀、數字傳輸分析儀、協議分析儀、光網絡分析儀、光時域反射計、光功率計/功率探頭、誤碼儀、光衰減器、光示波器、等各類通訊測試儀器及光學量測儀等電子儀器量表。

該公司產品分類：儀器儀表

TIV德國KK光學硬度計，美國GE光學硬度計

亞測（上海）儀器科技有限公司是德國KK/美國GE中國區域一級代理商，德國KK TIV光學硬度計為亞測（上海）儀器科技有限公司無損檢測事業部UT二級人員經常多次實驗測試，現場勘查，精心為您推薦的一款原裝進口光學硬度計，主要是對工件進行光學硬度分析。此款儀器精度高，易操作，讀數準確等特點。為廣大硬度測量使用者所青睞

德國KK公司便攜式TIV光學硬度計（Through Indenter Viewing通過壓痕觀察）通過一個特殊的光學系統和CCD鏡頭，將壓痕顯示在顯示屏上來測定測量的維氏硬度。雖然便攜式光學硬度計TIV并沒有同樣來自德國KK的超聲波硬度計MIC10DL功能強大，但作為硬度計來說，已經能夠出色地完成項目的檢測任務。

Through Indenter Viewing-通過壓痕觀察法：按照維氏硬度的光學測試方法，通過CCD鏡頭及光學系統，自動或手動壓痕的對角線長度。可測量不同的材料，無需額外的校準。材料包括：鋼、非磁性金屬塑料、硬質合金、玻璃、陶瓷。

便攜式光學硬度計TIV光學硬度計產品特性：

第一款便攜式視覺硬度計，配備彩色的大顯示屏
當探頭在被測物表面加載時，鉆石壓痕圖像被自動記錄和評估，直接測量對角線，不用再通過顯微鏡頭
測量不受材料性質的影響。可測量鋼和非磁性金屬、塑料、硬質合金、玻璃、陶瓷，不用經過校準
測量不受測量大小和形狀的影響，甚至可以測量硬幣、金屬板和金屬箔
可直接通過彩色顯示屏觀察到壓痕形成的過程
可顯示統計數據的曲線、直方圖和表格

便攜式光學硬度計TIV光學硬度計主要應用：

由于TIV不僅不受測試位置和測試角度的影響，也不受被測物的材料、大小和形狀的影響，因此可應用于在一些傳統的便攜式硬度計不能勝任的場合。常規的應用如下：- 熱處理行業。可方便快速地測量表面硬度，無需通過校準- 航空行業。可測量薄件和合金地硬度，無需額外地校準- 造幣廠。可測量硬幣地硬度- 測試單位。TIV是一款通用地便攜式硬度計- 實驗室和研究所。可觀察到壓痕的形成過程

德國KK TIV光學硬度計技術參數

探頭測量范圍顯示屏操作語言硬度制換算和分辨率評估自動關機電池操作系統接口操作溫度存儲溫度尺寸重量

TIV105探頭，負載5kgf（50N），220x52mm TIV101探頭，負載1kg（10N），220x52mm 100HV～1000HV（配TIV105探頭） 30HV～500HV（配TIV101探頭） 1/4 VGA彩色TFT顯示屏，5.7"可視范圍，115.2x76.8mm，240x320象素，帶背光德語、英語、法語 HV（1.0）；HB（1.0）；HS（1.0/0.5/0.1）；HRC（1.0/0.5/0.1）；HRB（1.0/0.5/0.1）；N/mm2（5.0）。按照DIN 50150和ASTM E140自動換算測試數據的曲線、直方圖和表格。計算統計值如平均值、標準偏差可選擇自動關機時間。關機時回自動存儲測試數據和儀器設置充電電池，可連續測試1000次。有低電壓指示 WinCE RS232 0～50℃ -20～70℃ 78x215x180mm，包括電池1.4kg

亞測（上海）儀器科技有限公司是德國KK/美國GE中國區域一級代理商，現貨供應USN60超聲波探傷儀、USM35XS超聲波探傷儀、USM36超聲波探傷儀、USM GO超聲波探傷儀、USM88超聲波探傷儀、USM86超聲波探傷儀、Phasor XS相控陣探傷儀、USLT2000汽車點焊探傷儀、USLT USB汽車點焊探傷儀、MIC10超聲波硬度計、MIC20超聲波硬度計、TIV光學硬度計、DynaPOCKET袖珍型里氏硬度計，以及DMS GO超聲波測厚儀、CL5超聲波測厚儀、DM5E超聲波測厚儀等系列產品，歡迎廣大新老客戶前來咨詢選購！18001735070

該公司產品分類：韓國京都磁粉探傷儀德國尼克斯涂層測厚儀德國EPK涂層測厚儀美國達高特美國磁通儀器武漢中科儀器汕超電子儀器萊州華銀儀器北京時代儀器儀器儀表配件其它儀器儀表其它品牌儀器美國GE/德國KK 奧林巴斯儀器射線探傷儀里氏硬度計粗糙度檢測儀涂鍍層測厚儀超聲波測厚儀超聲波探傷儀

QWFT－B自動平衡精密光學隔振平臺

1.儀器特點：高導磁不銹鋼面板M6 25×25螺孔方陣隔振支撐采用二層寶塔氣囊,小孔空氣阻尼配合, 隔振性能結構緊湊, 穩定適用于各種實驗環境2.性能參數：平面度不大于0.05mm/平方米表面粗糙度小于0.8微米固有頻率垂直1.5Hz-2.0Hz, 水平1.2Hz-2.0Hz振幅不大于2微米規格(mm)： 1200×800×800～6000×1500×800

SGC-10薄膜測厚儀（薄膜厚度和光學常數測量系統）

通過分析薄膜表面的反射光和薄膜與基底界面的反射光相干形成的反射譜，用相應的軟件來擬合運算，得到單層或多層膜系各層的厚度d，折射率n，消光系數k。該設備關鍵部件均為國外進口，也可根據客戶需要整機進口。

儀器特點

1 非接觸式測量，用光纖探頭來接收反射光，不會破壞和污染薄膜；

2 測量速度快，測量時間為秒的量級；

3 可用來測薄膜厚度，也可用來測量薄膜的折射率n和消光吸收k；

4 可測單層薄膜，還可測多層膜系；

5 可廣泛應用于各種介質，半導體，液晶等透明半透明薄膜材料；

6 軟件的材料庫中整合了大量材料的折射率和消光系數，可供用戶參考；

7 內嵌微型光纖光譜儀，結構緊湊, 光纖光譜儀也可單獨使用。

參數和性能指標

厚度范圍： 20nm-50um（只測膜厚），100nm-25um（同時測量膜厚和光學常數n，k）

度： <1nm或<0.5%

重復性： 0.1nm

波長范圍： 380nm-1000nm

可測層數： 1-4層

樣品尺寸：樣品鍍膜區直徑>1.2mm

測量速度： 5s-60s

光斑直徑： 1.2mm-10mm可調

儀器成套性

測厚儀主體（內含光源和光纖光譜儀），光纖跳線，光纖探頭，標準硅片，支撐部件，配套軟件

可擴展性

通過光纖連接帶有C口的顯微鏡，就可以使本測量儀適用于微區（>10um）薄膜厚度的測量。

強大的軟件功能

界面友好，操作簡便；

可保存測量得到的反射譜；

可讀取保存的反射率數據；

可選擇是否測量折射率n，消光系數k；

可選擇光譜范圍；

可猜測薄膜厚度以節省測量時間；

可從大量的材料庫中選擇薄膜和基底的材料；

用戶可自己擴充材料庫。

同類產品鏈接：

SGC-2 自動橢圓偏振測厚儀　http://www.tjgd.com/view/product.asp?id=147

SGC-1A 橢圓偏振測厚儀　　http://www.tjgd.com/view/product.asp?id=50

光學棱鏡

我公司能夠生產多種規格種類光學棱鏡，包括，直角棱鏡，等邊棱鏡，及定制棱鏡。

材料：各種光學玻璃以及紫外熔石英、紅外熔石英、氟化鈣等晶體材料，并可根據客戶要求提供鍍膜服務

另還可生產球面鏡、柱面鏡、光學窗口、平面鏡、反射鏡、膠合鏡、棱鏡、非球面等各種高精密光學元件，基底材料包括各種火石玻璃、紫外熔石英、紅外熔石英等光學玻璃以及氟化鈣(CaF2)、鍺(Ge)、硒化鋅(ZnSe)、硅(Si)等光學晶體材料，并可以提供鍍膜和檢測服務。公司產品性能、精度等指標可達到國際先進水平，產品種類豐富、質量優良，大部分產品均備有充分的現貨庫存，也可以按客戶需求設計和制作產品。

該公司產品分類：光學鏡片