高壓加速老化試驗機 非飽和壓力壽命試驗箱   高溫老化蒸煮儀

型號：HAST-45

高壓加速老化試驗機 性能：

●濕度波動度：±2.5 %R.H.

●溫度波動度：±0.5℃.

●濕度均勻度：±5.0%.

●溫度波動度：±0.5℃.

●測試環境條件：環境溫度為+25℃、相對濕度≤85%、試驗箱內無試樣條件下

●溫度范圍：105℃ → +132℃. （控制點）。

●壓力范圍：0.5～2㎏/㎝2 （控制點）。

●溫度偏差：±2.0℃.

●測試方法：GB/T 5170.2-1996 溫度試驗設備.

●濕度范圍：75% ～ 100 %R.H . （控制點）。

●升溫時間：常溫 → + 132℃   55 min .

●升壓時間：常壓 → + 2㎏/㎝2   60 min.

高壓加速老化試驗機 非飽和壓力壽命試驗箱 高溫老化蒸煮儀

本試驗設備禁止：

●強電磁發射源試樣的試驗或儲存。

●易燃、易爆、易揮發性物質試樣的試驗或儲存。

●內箱尺寸：50×600 mm（φ×D）圓形試驗箱,符合工業安全容器標準,可予防試驗中結露滴水現象。

●腐蝕性物質試樣的試驗或儲存。

●外部尺寸：依圖紙

滿足標準：IEC60068-2-66; JESD22-A102-C; JESD22-A110-B;JESD22-A118;

 GB/T 2423.40-1997

溫度控制所有的QUV紫外燈耐候試驗箱都能精確控制溫度，以提高精度和加速測試進程。盡管溫度通常不影響主要的光化學反應，但會影響任意一個后續反應的速度。因此，QUV紫外線耐候試驗機的溫度控制能力在紫外線曝露測試時是耐候性測試必不可少的。

多用途樣品安裝標準樣品支架可調整為任何厚度，高為20mm（3/4英寸），并允許快速安裝樣品。 護環可很好地壓緊樣品，不需要將測試樣品削減到接近容納范圍。此外，自定義支架可安裝各種產品，如鏡頭、 較大的樣品、 和3D部件。

質量體系需要測試條件的證明文檔，因此每個紫外燈耐候試驗箱都配有以太網連接。可選的“虛擬帶狀”PC軟件允許用戶自動記錄曝露條件和從QUV紫外燈耐候試驗箱直接傳輸數據到基于Windows系數的計算機。 數據也可以通過電子郵件直接發送到Q-Lab技術支持臺，以尋求家對故障進行診斷和排除。

控制 及可選軟件目的在于讓功能設定和使用都較為容易，QUV控制器包括完整的自我診斷錯誤檢查。控制器持續監控著所有系統的狀態和性能。有需要的話，紫外燈耐候試驗箱也能顯示簡單的警告信息、常規服務提醒或執行安全關機。

         上使用廣泛的紫外線老化試驗機-QUV紫外燈耐候試驗箱（http://www.laohuashiyanxiang.com/p26.html）歡迎客戶來電咨詢：。

紫外線會造成曝露在戶外的耐用材料的光降解。 QUV試驗機的紫外熒光燈能模擬關鍵的短波紫外線,真實地再現由陽光造成的物理性能損傷。 損傷類型包括褪色、光澤消失、粉化、龜裂、開裂、模糊、起泡、脆化、強度減小和氧化。

露水，而不是雨水，是造成戶外潮濕的主要原因。 QUV 試驗機的冷凝系統真實地模擬了這種戶外潮濕的影響。

冷凝過程中，會自動凈化 水盤中的自來水。這是因為樣品上水的蒸發和冷凝過程其實就是一個去除所有雜質的蒸餾過程。

QUV紫外燈耐候試驗箱能重現太陽光、雨水和露水造成的損害 。 在幾天或幾周之內，QUV試驗機就能夠再現戶外數月或數年造成的損害。模擬戶外老化。QUV紫外燈耐候試驗箱將材料曝露在交替循環的UV光、可控的濕度及高溫環境下。紫外燈耐候試驗箱使用特殊的熒光紫外燈管模擬陽光的照射。用冷凝濕度和/或水噴霧的方法模擬露水和雨水。

Q-lab  uv老化試驗箱是簡單、可靠、易用的老化試驗機。各地使用的QUV試驗機達數以淋計，紫外線老化試驗機是上使用廣泛的老化試驗機。

QUV紫外燈耐候試驗箱可方便地容納多達48個樣品（75mm x 150mm ）,完全符合國際、國家和行業規范，確保了測試程序的可靠性和可重復性。

易于操作 QUV 試驗機簡單而成熟的設計使其易于安裝、使用，且幾乎免維護。其運作完全自動化，即可以全天候無間斷的運行。 功能包括：

易于操作的用戶界面 不間斷顯示的曝露條件 機器自我診斷報警和提醒服務 獲得利的AUTOCAL系統使校準變得快速且方便

可負擔得起的 QUV紫外加速老化試驗機經濟實惠，操作方便，因為它采用了： 低價、長壽命 熒光紫外線燈管 冷凝時使用普通自來水

1、同時測試四個頭盔；2、氙燈功率：125W；3、頭盔距離氙燈25cm；4、頭盔支架可調節高度，旋轉速度：1-5轉/分鐘；5、材質：外箱為鈑金，內箱及支架采用不銹鋼。

一、產品用途：

  HAST高壓加速老化試驗機（又名HAST高壓加速壽命試驗機）試驗目的是提高環境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷.等)，加快試驗過程，縮短產品或系統的壽命試驗時間,用于調查分析何時出現電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。  隨著半導體可靠性的提高，目前大多半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時間，采用了最新的壓力蒸煮鍋試驗方法。壓力蒸煮鍋試驗方法主要分成兩種類型：即PCT和USPCT(HAST)現在壓力蒸煮鍋試驗作為濕熱加速試驗被IEC(國際電工委員會)所標準化。注意事項：USPCT現在稱為HAST(高度加速應力試驗)。二、設備特點：1、最新優化設計,美觀大方，做工精細。2、對應IEC60068-2-66條件，具有直接測量箱內溫濕度的干、濕球溫度傳感器。3、采用7寸真彩式觸摸屏，擁有250組12500段程序，具有USB曲線數據下載功能，RS-485通訊接口。4、HAST高壓加速老化試驗機采用高效真空泵，使箱內達到最佳純凈飽和蒸汽狀態。5、具有緩降壓、排氣、排水功能，控制避免試驗結束后壓力溫度的急變，保證試驗結果的正確。6、多項安全保護措施,故障報警顯示及故障原因和排除方法功能顯示。7、HAST高壓加速老化試驗機可根據客戶產品定制專用產品架。

三、規范要求：

1、內膽采用圓弧設計,復合國家安全容器標準,可以防止試驗結露滴水現象，從而避免產品在試驗過程中受過熱蒸汽直接沖擊影響試驗結果。2、配備雙層不銹鋼產品架,也可根據客戶產品規格尺寸免費量身定制專用產品架。3、標準配備8條試驗樣品信號施加端子，也可以根據需要增加端子數量，最多可提供55條偏壓端子。4、HAST高壓加速老化試驗機具備特制的試樣架免去繁雜的接線作業。 

主要技術參數：