表面阻抗分析儀產品及廠家
美國gd eim 105-10hz電阻抗計，prep-check電阻抗計，eim 105-10hz 是一款手持式電池供電設備，用于測量，應用于患者的生物電勢電的電阻抗。 阻抗讀數在 10 hz 下測量，無直流化電流，并呈現在大型液晶顯示器，帶有顏色編碼“good”的輔助解釋和“poor”燈。
更新時間:2024-12-18
loesta ax 低電阻率計是一種手持儀器，測量具有一致精度樣品的低電阻率。該電阻率計使用各種探頭測量電阻率。loesta ax使用一個標準的rcf，如果已知的話，用戶也可以輸入其他rcf。它通常用于產品工程和質量控制。應用域包括導電涂料、導電塑料、導電橡膠、導電薄膜、抗靜電材料、emi屏蔽材料、導電纖維、導電陶瓷等。
更新時間:2024-12-17
本儀器用于測定各種已經或未經抗水或拒水整理織物表面的抗濕性（沾水等級）。gb/t4745-1997 《紡織織物 表面抗濕性測定 沾水試驗》
更新時間:2024-12-13
dt304-353便攜式阻抗測試儀具有易于攜帶、操作簡便、測量迅速、顯示結果直觀等特點。供電采用直流供電，內置充電電池，用于現場無電源情況下使用，滿電狀態下可以連續測量10小時。
更新時間:2024-12-13
便攜式電阻儀 表面電阻測試儀該儀器為一臺便攜式電阻儀，規格為103 歐姆/米2 ～1012 歐姆/米2 ，精確度為±101/2。它主要用于測量表面電阻接地電阻。
更新時間:2024-12-13
干擾測量阻抗匹配器 干擾測量阻抗匹配儀 干擾測量阻抗匹分析儀dt307-zn28200干擾測量阻抗匹配器專門用于高壓電器設備無線電干擾測量，在進行測量試驗時
更新時間:2024-12-13
該儀器為一臺便攜式電阻儀，規格為103歐姆/米2～1012歐姆/米 2 ，精確度為±101/2。它主要用于測量表面電阻接地電阻。在測量表面電阻的時候，只要把儀器放在測量物表面，按下紅色測試按鈕就可以了。隨后儀器便會亮起103歐姆/米2 ～1012歐姆/米2范圍內相應的燈或緣顯示。在測量接地電阻的時候，重復上述過程，同時將接地插頭插入連接接地點的插座中即可。
更新時間:2024-12-13
石墨粉電阻率測試儀樣品檢測，功能介紹：本儀器采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示電阻值、電阻率、電導率值、溫度、壓強值、單位自動換算，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治
更新時間:2024-12-11
粉末電阻率測試儀 本儀器采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示電阻值、電阻率、電導率值、溫度、壓強值、單位自動換算，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試
更新時間:2024-12-11
塑料絕緣材料表面/體積電阻率測試儀現貨，概況：(1)適用標準：gb/t 22042-2008《服裝 防靜電性能 表面電阻率試驗方法》；en 1149-1-1995 《防護服 靜電性能 第1部分表面電阻檢驗方法和要求》
更新時間:2024-12-11
瑞柯系列普通四探針電阻率測試儀按照硅片電阻率測量的國際標準（astm f84）及國家標準設計制造該儀器設計符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標準，本機配置232電腦
更新時間:2024-12-11
電纜半導電屏蔽層電阻率測試儀的供應商根據國標gb11017-89所規定的測試方法和技術要求制造，用來測試高壓電纜半導電內外屏蔽層的電阻率，四端法測試原理，通過測試裝置能夠滿足不同線徑之產品測量其屏蔽層電阻率。
更新時間:2024-12-11
系列雙電四探針粉末電阻率測試儀數據管理粉體受到壓縮直至平穩時，粉體空隙率非常小，壓實密度接近于真密度狀態，則此時測試出來的粉末電導率為接近于理論值.
更新時間:2024-12-11
四探針電阻率測試儀,方阻儀 顯示讀數：液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率 四探針電阻率測試儀,方阻儀
更新時間:2024-12-11
硅材料測試儀-四探針法測試臺 探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影響及誤差，比市場上其他普通的四探針測試方法更加完善和進步,特別是方塊電阻值較小的產品測量，更加準確.硅材料測試儀-四探針法測試臺
更新時間:2024-12-11
ft-341雙電四探針測試儀,雙電四探針電阻率測試儀 選購1.pc軟件； 選購2.方形探頭； 選購3.直線形探頭； 選購4.測試平臺 ft-341雙電四探針測試儀,雙電四探針電阻率測試儀
更新時間:2024-12-11
ft-343雙電四探針電阻率/方阻測試儀 利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，對數據進行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響 ft-343雙電四探針電阻率/方阻測試儀
更新時間:2024-12-11
ft-346雙電測四探針電阻率測試儀 質量輕便，運輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數據，自動生成報表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示 ft-346雙電測四探針電阻率測試儀
更新時間:2024-12-11
ft-347雙電測電四探針電阻率方阻測試儀 ft-347雙電測電四探針電阻率方阻測試儀,電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率
更新時間:2024-12-11
粉末高阻測試儀,粉體阻抗分析儀 絕緣材料存在的狀態有固態規則形狀如（長方體，圓柱體等是固有形狀）及不規則狀態（如粉末狀,膏體狀，液態流動狀），目前對絕緣體材料的測試方法和測量方式基本上是采用三環電極結構測量規則形狀體，而不規則狀材料的測試較少，本機主要能滿足傳統的電阻測量外，還可以測試不規則狀態（如粉末狀,膏體狀，液態流動狀）材料的電阻和電阻率 粉末高阻測試儀,粉體阻抗分析儀
更新時間:2024-12-11
絕緣粉末電阻率測試儀， 電路結構采用集成電路及高精度芯片控制系統，滿足測試數據的高效采集和數據的讀取.自動量程轉換 絕緣粉末電阻率測試儀
更新時間:2024-12-11
ft-351高溫四探針電阻率測試系統 ，爐膛材料：采用復合陶瓷纖維材料，具有真空成型，高溫不掉粉的特征 usb通訊接口，軟件界面同步顯示、分析、保存和打印數據 ft-351高溫四探針電阻率測試系統
更新時間:2024-12-11
四探針探頭批,發四探針臺 ， 采用四探針組合雙電測量方法，液晶顯示，自動測量，自動量程，自動系數補償.高集成電路系統、恒流輸出；選配：pc軟件進行數據管理和處理.
更新時間:2024-12-11
智能型雙電測四探針測試儀，采用四探針組合雙電測量方法，液晶顯示，自動測量，自動量程，自動系數補償.高集成電路系統、恒流輸出；選配：pc軟件進行數據管理和處理.
更新時間:2024-12-11
lx-9831電壓降測試系統 本系統電壓降和接觸電阻是車用電線束插接器在強電流電路和弱電流電路下電性能評定指標；在恒定電流狀態下，通過測試導線壓接和端子接觸區域的電壓降，還可以獲得接觸電阻數據；如果通過模擬環境試驗測試后的汽車用插接器再進行電壓降測試，數據能更真實反映產品本身的特性；適用于科研院所、企業研發、進料檢驗和質量中心等技術部門提供更加精準和可靠的數據保證 lx-9831電壓降測試系統
更新時間:2024-12-11
電線束插接器壓降測試系統批發,通過電流、電壓和時間，來檢測電線束插接器電壓降、接觸電阻和溫升變化關系，是汽車用插接器的主要電氣性能指標，它直接影響汽車各電氣設備的信號傳輸和電氣連接，以及電氣設備的工作穩定性和可靠性；不良的接觸電阻和壓降是汽車用插接器工作時產生溫升的主要原因。降低接觸電阻可有效控制溫升，從而提高插接器壽命和性能.
更新時間:2024-12-11
端子壓降測試系統,電線束壓降測試系統 本系統采用集成電路及高精度芯片控制，通過測量接觸電阻、電壓降及溫升等數據來檢測電線束插接器的電性能，恒流源供給更加穩定的輸出，大液晶顯示屏幕更加直觀，各類參數和功能設定通過薄膜面板實現，人性化設計符合人體工學原理，提供usb、232、485通訊接口；可以連接打印機、電腦和其他外接控制單元，配置pc軟件可以獲得更多過程數據，測試報表處理、存儲和數據分析有助于產
更新時間:2024-12-11
采用高精度恒流恒壓源，自動量程，無需手動調節和設定。大液晶屏幕顯示，所有測試數據和設定數據均可顯示，當選擇經濟型手動測量裝置匹配時能直觀的查看數據；如果在條件許可下可以選擇自動測量裝置將獲得更高精確的重復性數據和消除操作誤差帶來的不確定性。
更新時間:2024-12-11
隔熱導電膜四探針電阻率測試儀，本品為解決四探針法測試超高阻值材料方阻及電阻率，最大可以測試到1010ω方阻值，是目前同行業中能測量到的最大方阻值，此儀器是瑞柯新品，主要用于測超高阻。
更新時間:2024-12-11
本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置。
更新時間:2024-12-11
通用型粉末電阻率測試儀本儀器采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示電阻值、電阻率、電導率值、溫度、壓強值、單位自動換算，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購.使用薄膜按鍵開關面板，操作簡單，耐用，符合人體工學操作規范.
更新時間:2024-12-11
絕緣材料高溫表面和體積電阻率測試儀適用標準：gb/t 22042-2008《服裝 防靜電性能 表面電阻率試驗方法》；en 1149-1-1995 《防護服 靜電性能 第1部分表面電阻檢驗方法和要求》；gb/t 1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗方法》（與國際標準iec93-1980等效）；fz/t 64013-2008 《靜電植絨毛絨》.
更新時間:2024-12-11
導體材料高溫電阻率測試儀廣泛用于：生產企業、高等院校、科研部門對導體材料在高溫下電阻率數據的測量.同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、電導率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購.
更新時間:2024-12-11
材料低電阻率測試儀滿足標準： gb/t6717、gb/t 24525-2009、ys/t63.2、 iso 11713-2000、ys/t63.2-2005、ys/t 64-1993。gb3048.2-2007、gb/t3048.4-2007、gb/t3952-2008、gb/t3953-2009、gb/t3954-2008、gb/t3955-2009、gb/t3956-2008.
更新時間:2024-12-11
雙電測電四探針測試儀采用四探針雙電測量方法，適用于生產企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置。
更新時間:2024-12-11
四探針方阻儀按照硅片電阻率測量的國際標準（astm f84）及國家標準設計制造該儀器設計符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標準，本機配置232電腦接口及usb兩種接口.
更新時間:2024-12-11
方塊電阻測試儀按照硅片電阻率測量的國際標準（astm f84）及國家標準設計制造該儀器設計符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標準.
更新時間:2024-12-11
薄膜方阻測試儀按照硅片電阻率測量的國際標準（astm f84）及國家標準設計制造該儀器設計符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標準
更新時間:2024-12-11
絕緣粉末/液體電阻率測試儀測定方法，絕緣材料存在的狀態有固態規則形狀如（長方體，圓柱體等是固有形狀）及不規則狀態（如粉末狀,膏體狀，液態流動狀），目前對絕緣體材料的測試方法和測量方式基本上是采用三環電極結構測量規則形狀體，而不規則狀材料的測試較少，本機主要能滿足傳統的電阻測量外，還可以測試不規則狀態。
更新時間:2024-12-11
糖粉粉末電阻率測試儀技術參數，功能介紹：本儀器采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示電阻值、電阻率、電導率值、溫度、壓強值、單位自動換算，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試
更新時間:2024-12-11
本品為解決四探針法測試超高阻值材料方阻及電阻率，最大可以測試到1010ω方阻值，是目前同行業中能測量到的最大方阻值，選購：本機還可以配合各類環境溫度試驗箱體使用，通過不同的測量治具滿足不同環境溫度下測量方阻和電阻率的需求.采用高精度ad芯片控制，恒流輸出，結構合理、質量輕便，運輸安全、使用方便；適用于生產企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。
更新時間:2024-12-11
液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置。
更新時間:2024-12-11
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